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日置HIOKI IM3570阻抗分析仪

日置HIOKI IM3570阻抗分析仪

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测试频率:4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进),基本精度±0.08%的高精度测量, 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量, 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量。

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